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淺談LED失效分析技術(shù)

2014-03-31 16:00

 隨著LED產(chǎn)品制造技術(shù)的逐漸成熟,成本越來越低,性價比越來越高。目前小功率LED產(chǎn)品在大屏幕戶外顯示等商用領(lǐng)域有很大的應(yīng)用范圍,如何增加使用壽命,減少維護成本也是業(yè)界關(guān)注的要點所在。解決高成本問題的一個積極態(tài)度,就是要分析其失效機理,彌補技術(shù)缺陷,以提高LED產(chǎn)品的可靠性,提高LED的性價比。
    理論上,LED產(chǎn)品為當光輸出衰減至50%即認為產(chǎn)品失效。本文所討論的失效不僅指LED因為光通量下降而產(chǎn)生的中位壽命失效,也討論其它原因引起的斷路失效,即引起LED器件性能下降的各種因素。
LED產(chǎn)品的失效模式就目前所觀測到的情況而言,有如下幾個方面:開路失效,光通下降,劣化失效。前者是由于電回路中某一點的斷裂引起LED產(chǎn)品徹底失效,后者則是因為由于LED產(chǎn)品的無源復(fù)合等原因,引起光轉(zhuǎn)化效率下降,引起光通量下降。至于劣化失效是因為產(chǎn)品在長時間的使用過程中,因材料的老化而產(chǎn)生的失效。
    LED失效分析是對已經(jīng)失效了的LED進行分析的過程,為了了解器件失效的原因,必須對LED各個組成部分進行全面的研究。首先要對LED的失效時間進行分析,對于接近設(shè)計壽命的元件,將不作分析,作退役處理,其他元件視其是否開路失效,而考慮是否進行光電參數(shù)的測試,再進行外觀測試;如果已經(jīng)是開路失效,將直接使用光學顯微鏡,金相顯微鏡等進行外觀檢測,分析可能存在的缺陷,如果在引腳與鍵合處存在失效,那么,將采用電子探針顯微測試分析引腳失效原因,再對元件進行紅外測試,找尋內(nèi)部缺陷。最后對缺陷部位進行定點剖析測試,確定失效原因。
    在LED的失效分析過程中,必須注意到各種失效方式之間的相互聯(lián)系,在分析過程中要加以認識,結(jié)合失效時間,應(yīng)用環(huán)境,并尋找適當?shù)姆椒右詤^(qū)分。
    雖然在研究過程中,盡可能地完善檢測條件與方法去查找失效原因相當重要,然而,更應(yīng)當意識到失效預(yù)防的重要性,因此利用失效分析得出LED的失效原因后,找出避免再次出現(xiàn)同類失效方式的方法,這才是失效分析的目的所在。